בדיקת גודל מראה וביצועים פיזיים:
| בדיקת פריטים | מכשירי בדיקה | מדדי בדיקה | גורמים המשפיעים על אינדיקטורים | מטרת הבדיקה |
| גוֹדֶל | קליפרים, מיקרומטרים, מדי מעבר ועצירה, מקרנים, גלאים חזותיים | אורך, רוחב, ממדי עובי, אנכיות, מקביליות, זווית R, זווית C וכו'. | ציוד עיבוד שבבי, כלי בדיקה, דיוק מכשירים, כישורי עובד וכו'. | ודא מאפייני הרכבה של המוצר ועקביות ביצועים באיכות |
| חִיצוֹנִי | תצפית חזותית, כרטיס השוואה, הקשה או מפתח וכו'. | חרירים, פינות, שריטות, סדקים וכו'. | נוסחת חומר, תהליך ייצור, תהליך עיבוד וכו'. | הפחת את עמידות המוצר בפני קורוזיה, ביצועים, סיכוני כשל מכאני וכו' |
| תכונות מכניות | מכונת בדיקה מכנית, | מתח, דחיסה וכו'. | נוסחת חומר, טכנולוגיית ייצור, טכנולוגיית עיבוד שבבי, מפרטי מוצר וכו'. | צמצם את הסיכון להיסדק של המוצר במהלך השימוש |
| חוזק מליטה של ציפוי | מכונת בדיקה מכנית או בדיקות צולבות | מידת וכוח קילוף הציפוי, ויחס הקילוף של אזורים צולבים | תהליך טיפול מקדים בגלגול וטיפוס, סוגי ציפוי | ודא עמידות בפני קורוזיה של ציפוי |
| עמידות בפני קורוזיה | תא בדיקה | תא בדיקת הזדקנות מואצת בלחץ גבוה | תהליך ריפוי אלקטרו, ציפוי, עובי הסרט, תנאי סביבה וכו'. | הפחת את הסיכון לקורוזיה של המוצר בסביבות קשות |
בדיקת ביצועים מגנטיים:
| פריטי בדיקה | ציוד בדיקה | מחוון זיהוי | גורמים המשפיעים על אינדיקטורים | מטרת הבדיקה |
| תכונות מגנטיות | מכשירי מדידה מגנטים קבועים, כגון סדרת NIM של המכון המטרולוגי, סדרת Mianyang דו קוטבית, זר הירסט וכו' | מקדם טמפרטורה Br, Hcb, Hcj, Hk/Hcj, (BH)max, Br ו-Hcj בטמפרטורה רגילה/גבוהה, נקודת פיתול, חדירות התאוששות וכו'. | נוסחת חומר, תהליך ייצור, דיוק עיבוד, דיוק בודק, סביבת בדיקה וכו'. | בדוק אינדיקטורים שונים של ביצועי המוצר כדי לעמוד בדרישות השימוש במוצר וכו'. |
| מגנטיות פני השטח | מכשיר מדידה של הפצה מגנטית על פני השטח, מד טסלה וכו'. | גודל ואחידות הפיזור של מגנטיות פני השטח במרכז או באזור ספציפי וכו'. | מגנטיות שארית, מידות מוצר, שיטות מדידה וכו'. | בדוק את גודל השדה המגנטי באזורים המקומיים של המוצר |
| רגע מגנטי | בודק מומנט מגנטי, מד שטף וכו'. | ערך מומנט מגנטי | מגנטיות שארית, גודל מוצר וכו'. | משקף בצורה מדויקת יותר את התכונות המגנטיות של המוצר |
| דה-מגנטיזציה תרמית | מד שטף מגנטי, תנור וכו'. | שטף מגנטי, אחוז אובדן מגנטי | רכיבי חומר כגון Co, Nd, Gd וכו', ערך PC מוצר, Hcj, Hk/Hcj וכו'. | יציבות מגנטית מציאותית יותר של מוצרי תגובה בסביבות בטמפרטורה גבוהה |
במונחים של תכונות מגנטיות, בימים הראשונים, כולם התמקדו בשני האינדיקטורים של Remanence Br וכוח הכפייה הפנימי Hcj. כעת, יותר ויותר משתמשים שמים לב לרגע המגנטי ולדה-מגנטיזציה תרמית. אנו משתמשים בפלדה מגנטית בעיקר בגלל שני המאפיינים החשובים שלה, האחד הוא צפיפות האנרגיה המגנטית ליחידת נפח, והשני הוא היציבות המגנטית של פעולה בטמפרטורה גבוהה. סביר יותר להשתמש במומנט מגנטי ובדה-מגנטיזציה תרמית כדי להעריך. פלדה מגנטית שנבחרה באמצעות מחווני דה-מגנטיזציה תרמית תהיה ללא ספק אמינות שירות טובה יותר וביצועי עלות גבוהים יותר.
פריטי בדיקה עזר
| פריטי בדיקה | ציוד בדיקה | מחוון זיהוי | גורמים המשפיעים על אינדיקטורים | מטרת הבדיקה |
| צְפִיפוּת | צפיפות מוצקה | שיטת עקירה ארכימדית לחישוב משקל ויחסים שהוזכרו | צפיפות ריקים | הרכב חומרים, תהליך סינטר, תהליך הכנה |
| תכולת פחמן וגופרית | מנתח פחמן וגופרית אינפרא אדום | הטמפרטורה הגבוהה גורמת לשריפת הפחמן והגופרית בדגימה ליצירת תחמוצות לזיהוי. | תוכן C, S | תהליך הכנת חומרי גלם |
| תכולת חמצן, חנקן ומימן | בודק חמצן, חנקן ומימן | המדגם מומר בטמפרטורות גבוהות לייצור co, CO2, N2 ו- H2 לזיהוי. | תוכן O, N, H | תהליך הכנת חומרי גלם |
| אֵלֵמֶנט | ספקטרומטר פליטת פלזמה | אטומים עוברים לאחר יינון ומזהים את אנרגיית הגל האלקטרומגנטי המשוחרר, התואמת ליסודות בעלי ספקטרום אופייני שונה. | כגון Pr, Nd, Fe, Cu, B ואלמנטים אחרים | עיצוב נוסחה, הרכב חומרי גלם, תהליך ייצור, דיוק בדיקות |
| מִיקרוֹסקוֹפִּי | מיקרוסקופ אלקטרוני סורק, ספקטרומטר אנרגיה | נתח את מאפייני פני השטח של המדגם באמצעות אלקטרונים משניים, אלקטרונים מפוזרים ואותות רנטגן אופייניים | מראה גרגר, מורפולוגיה וגודל, הרכב מיקרוסקופי | הכנה מספקת, רזולוציית מיקרוסקופ אלקטרונים ודיוק |